分析與鑑定
原子力顯微鏡
原子力顯微鏡(AFM)在材料科學和生命科學研究中具有重要地位，自1980年代出現以來，顯著改變了科學研究領域，其主要工作原理是利用懸臂尖端探針在樣品表面進行掃描，並測量探針尖端與樣品表面之間的力，生成詳細的表面形貌拓撲圖，同時揭示黏滯性、彈性、導電性及溫度等表面機械性質。Bruker在原子力顯微鏡(AFM)領域有著長期的專業經驗，擁有多種先進機型，如MultiMode 8-HR與Dimension Icon等，可應用於材料科學、半導體、電子學、聚合物、奈米科學與電化學等，研究物質表面的形貌、結構、結晶、紋路、溝槽與孔洞尺寸、粗糙度、機械性能、電化學特性，或者可用於研究生物分子、細胞膜或組織的結構，進行高解析度的DNA、蛋白質、細胞膜成像與檢測，並測量細胞的機械性質。Bruker AFM系統還具備多種成像模式，接觸模式、輕敲模式和峰值力輕敲模式，這些模式能夠深度探測樣品的電學、磁性和機械性能。 在極限條件下，如高溫低溫或真空環境中，Bruker AFM儀器仍能提供穩定且精確的檢測，為科學家提供了強大的精密分析能力。
