關於科安

委辦單位：經濟部標準檢驗局
執行單位：工研院量測技術發展中心

本場研討會以半導體製程中的微汙染檢測新技術為主軸，內容涵蓋研究單位的前瞻技術發展，以及產業界即時/線上檢測技術的最新趨勢。科安公司很榮幸與工研院量測中心以及多位來自學術與產業界的專家講師一同分享、交流最新技術動態。當日，科安業務部王經理和與會者進一步解析微量元素控管與前處理之相關技術，豐富內容囊括：化學品的純度探討、器皿潔淨度探討、樣品前處理技術，以及實驗器材清洗，幫助與會者在檢測效能與技術挑戰間找到最佳解方。

更多與半導體產業相關的應用知識及技術原理解析，歡迎前往科安知識庫了解更多：

• 超微量金屬分析：降低分析背景值的策略
• FTIR顯微成像技術原理解析：應用於失效分析及故障根本原因分析

欲了解更多科安活動詳情，歡迎造訪展會活動頁面，並追蹤按讚科安粉絲專頁，不錯過任何最新消息！