展會活動

【延期公告】受颱風停班課影響，研討會將延期至11/14 (週四)舉行。造成不便，敬請見諒。

本場研討會以半導體製程中的微汙染檢測新技術為核心，內容涵蓋研究單位的前瞻技術發展，以及產業界即時/線上檢測技術的最新趨勢。師資陣容包含工研院量測中心先進製程儀器暨材料計量研究室的講師，以及學術及產業界的專家。科安公司業務部的王經理也受邀在研討會中分享關於半導體製程中微量元素控管及前處理技術的專業見解，協助與會者提升檢測效能，並有效應對技術挑戰。

這是一場不容錯過的技術盛會，誠摯邀請您與我們一同探索半導體微汙染檢測技術現況與最新發展！

報名截止

報名截止日期：2024/10/27
報名費用：免費
備註：本場研討會課程提供(1)甲、乙級計量人員繼續教育點數3點 (2)行政院公務人員學習護照網站登錄服務