常規型FTIR紅外光譜儀
Bruker ALPHA II
Compact FT-IR Spectrometer
Bruker 開發傅立葉轉換紅外線光譜儀已有數十年歷史,新一代機型ALPHA II以最精巧、穩固的硬體,提供最優質、最精確的實驗結果。可攜式設計、僅占一台筆電大小的桌面空間,即可滿足您日常化學分析、原材料品質控制、定量分析和驗證等各種需求。
多項獨家設計造就精確、穩定的分析數據:確保光徑永不偏移的RockSolidTM 干涉儀、獨家溫濕度監控、專利技術的高準確度雷射光源、能量經久穩定的CenterGlowTM IR光源,造就了無可比擬的信雜比(S/N Ratio > 55,000:1),提供分析實務上最高品質的光譜數據。
經濟首選:二極體雷射光源與先進穩固的干涉儀設計,使用壽命10年保固。特殊IR光源設計確保能量穩定、使用壽命5年保固。
彈性無限:靈活多樣的QuickSnapTM 採樣量測模組、彈性且直觀的操作軟體介面、豐富且可自由擴充的光譜資料庫,幫您輕鬆面對各類型應用。
技術簡介
FTIR光譜儀的心臟—可靠精準的RockSolid 專利干涉儀
Rocksolid 干涉儀採用倒置雙擺排列的雙立方反射鏡,不同於傳統邁克生干涉儀的平面鏡設計,立體角鏡不會因鏡面傾斜的影響而使反射光束的角度偏移,因此不需因應移動鏡的動態進行校正。
干涉儀中央的非磨耗軸承設計,可以抵抗振動和熱效應,確保機台在惡劣環境中也保有出色的穩定性,從而獲得最快、最準確的分析結果。
技術解析產品特點
最可靠的FT-IR光譜儀
- 業界最佳信雜比(S/N Ratio):減低雜訊的干擾,提供優良的訊號,訊號不須再過濾,減低誤判的機率
- 最密實可靠的全鋁製外殼設計,散熱快速,並可防止水氣及灰塵進入,減低分光鏡受潮機率,以及灰塵導致面鏡移位光路偏移的機率,測量再現性高且適用任何工作環境中的應用
- 系統組件診斷功能:實驗前確保機台各項重要組件運作正常,減少所有造成誤差的可能
兼具簡易與效率的最佳操作體驗
無論選擇使用OPUS-TOUCH觸控操作界面,還是外接電腦,操作 ALPHA II FTIR光譜儀都是一件輕鬆而簡單的事情。
- 外接式電腦控制:提供最豐富完整的分析功能,直覺式操作設計,可以透過簡易的步驟指引,新進人員也能輕鬆上手進行測量與分析
- OPUS TOUCH觸控操作介面:精簡化的操作流程設計,初學者也能輕鬆上手。同等級FTIR光譜儀中外型最輕巧,任何工作平台均可快速安裝,並可輕鬆攜帶至任何場域進行現場分析鑑定
適用於任何樣品型態之分析
- 靈活的QuickSnapTM 採樣量測模組提供全套的採樣附件,可以分析幾乎任何類型的樣品(固/液/氣體樣品)
- 模組安裝配對後自動導入所有參數,直覺式操作,透過簡易的步驟方便地引導使用者進行測量與分析
法規與標準方法
符合各式最新ASTM、ISO、USEPA等法規與各國藥典,並符合21 CFR Part 11要求與數據完整性(Data Integrity)的log檔資料存取規範。內建全自動OQ/PQ驗證程序,確保各種測量模式的操作和性能,確效更有保障。
- ISO 19087:2018 作業環境空氣–利用傅立葉轉換紅外光譜分析可呼吸性粉塵結晶二氧化矽
- ASTM D7575 – 11 使用紅外光譜結合無溶劑萃取進行環境水中油脂分析
- NIEA M907.01B 化粧品及個人清潔用品中含塑膠微粒材質之定性檢測方法
- NIEA T101.11C化學物質檢測方法–有機類定性及定量分析法
更多FT-IR選擇
INVENIO系列
提供更高的光譜範圍,多個樣品室與偵測器可供搭配,更適合於研究用途上。
VERTEX 系列
具備真空吹掃的獨特功能可以消除大氣中水分,實現最高的靈敏度和穩定性;實現苛刻實驗條件,例如高分辨率、超快速掃描、步進掃描或紫外光譜範圍測量。
LUMOS II 紅外成像顯微鏡
一體成型式的顯微紅外線光譜儀,搭配獨家焦點平面陣列 (FPA)偵測器技術,讓取得並比對FTIR光譜的同時,也能迅速且精確地同步進行樣品影像的顯微觀察。
常見應用領域
聚合物塑料回收,變廢為寶
根據聯合國報告顯示,全球製造的塑膠累計高達90億噸,然而只有6%的塑膠被成功回收。回收聚合物並製造成新的塑料產品需要經歷一個漫長的過程,包括材料的分類、運輸、再利用至最終生產過程。在這個過程中,確保所提供的回收材料的純度至關重要。
透過紅外光譜技術,能夠進行定性和定量分析,以避免材料的損壞並優化回收過程;該技術可應用於各種形狀、尺寸和類型的聚合物,包括熔融薄膜、碎片或顆粒等。