桌上型X光繞射分析儀
Bruker D6 PHASER
All-in-One Benchtop XRD
Bruker D6 PHASER 是一款功能強大的多功能桌上型 X 光繞射（XRD）平台，在精巧機身中整合高功率 X 光源、靈活的光學系統與多種樣品台配置，可依不同樣品與分析需求彈性配置量測系統。
不同於傳統桌上型 XRD 主要聚焦於粉末繞射，D6 PHASER 的分析能力可進一步延伸至薄膜 GID/XRR、殘餘應力、織構、全散射/配對分布函數(PDF)，以及非常規環境與 Operando XRD 等進階應用。透過模組化樣品台、光學元件與偵測器配置，可依研究與品質管制需求擴充分析功能，滿足從日常品管到進階材料研究的多元應用需求。
技術簡介
支援粉末、薄膜、應力與總散射等多種 XRD 分析
D6 PHASER 不僅支援傳統粉末 X 射線繞射，更可透過靈活的樣品台與光學配置，延伸至多種進階 XRD 分析應用
- 粉末繞射 — 反射、箔片穿透（foil transmission）及毛細管穿透量測
- 材料研究 — 殘餘應力（Residual Stress）、織構（Texture）分析
- 薄膜分析 — 掠角入射繞射（GID），X光反射率（XRR）
- 全散射與配對分布函數（Pair Distribution Function, PDF）分析 — 非晶態及奈米材料的局部結構研究
- 非常規環境與In-situ（Operando） 分析 — 支援非環境（Non-ambient）及電池充放電狀態 in-situ 分析，追蹤不同條件下材料的相變化
高功率 X 光源與多元光學配置
D6 PHASER 結合高功率 X 光源、小半徑測角儀、LYNXEYE 偵測器系列與客製化光學元件，提供多元的量測配置
- 最高2 kW，內建冷卻系統
- 成熟可靠的測角儀（Goniometer）設計
- 提供多種偵測器配置，LYNXEYE XE-T 支援進階能量鑑別功能
- 可選配電動光學元件
動態光束優化與觸控操作，簡化量測設定
D6 PHASER 提供軟體引導與觸控操作，簡化方法設定與日常量測流程
- 動態光束優化系統（Dynamic Beam Optimization, DBO），可依樣品尺寸與掃描範圍自動調整光學條件，減少人工設定
- 觸控螢幕直覺操作，可直接進行系統操作、狀態確認、量測工作啟動與結果查看
- 模組化快速更換，樣品台與光學元件可依不同量測需求快速切換配置
自動化樣品處理與量測流程
D6 PHASER AUTOLOADER 可自動化樣品上樣、量測與後續處理，支援連續樣品分析。
- 樣品預載功能（Sample pre-loading）
- 最多 5 個樣品匣位置（Up to 5 magazine positions）
- 支援單機獨立運作或線上連線作業（Stand-Alone or Online Operation）
性能指標
±0.01° 全角度量測準確度
全角度誤差小於±0.01°，提供嚴謹的定性與定量分析結果。
半峰全寬（Full Width at Half Maximum, FWHM）< 0.03°
D6 PHASER 可達FWHM < 0.03°，有助於分辨角度接近的繞射峰，並支援晶粒尺寸等微結構分析。
2θ = 1° 起的低背景量測
DBO 可降低空氣造成的背景散射雜訊，支援低角度微弱訊號分析。從 2θ = 1° 起即可維持低且平滑的背景訊號，便於辨識低角度區域的微弱繞射峰。適合介孔材料、薄膜（XRR）與高分子結構分析。
標準樣品驗證系統精度
每台 D6 PHASER 都附標準樣品，可隨時驗證系統精度是否達標（峰位誤差 ±0.01°；搭配樣品旋轉台時，相對強度誤差 <10%）。
DIFFRAC.SUITE 軟體工作流程
WIZARD 引導式方法設定、COMMANDER 一鍵執行量測、RESULTS MANAGER 自動歸檔管理數據，整合量測與數據管理流程。
法規與標準方法
CE Compliance — CE 符合性
2006/42/EC — 歐盟機械指令
2014/30/EU — 歐盟電磁相容性指令
2013/59/EURATOM — 歐盟原子能共同體基本安全標準指令
EN ISO 13849-1:2015 — 機械安全－控制系統安全相關部件
支援依 EN 15305 標準，以 X 光繞射量測殘餘應力或外加應力
支援依 ASTM D5187 標準分析鍛燒石油焦（Calcined Petroleum Coke）的 Lc（微晶平均厚度）
常見應用領域
半導體／薄膜材料分析
鋰電池材料研發
製藥／原料藥品管
地質礦物／水泥建材
材料科學／奈米材料
