奈米紅外原子力顯微鏡

Bruker Dimension IconIR
Nano IR Atomic Force Microscope

Dimension IconIR是Bruker針對大型樣品設計的奈米紅外(nanoIR)光譜與原子力顯微鏡(AFM)系統。結合高解析度的化學成像、奈米機械測量和電學性能映射，為各種材料提供無與倫比的分析性能。該系統的奈米紅外(nanoIR)成像能夠實現小於5 nm的解析度，在超高解析度成像領域無可匹敵，並具備可測量單層分子的高靈敏度，於薄膜材料、生物樣本等研究領域展現出卓越性能。

Dimension IconIR支持多種Bruker專利的成像模式(如PeakForce Tapping^®），並能精確測量直徑高達150 mm的大型樣品，在學術研究和工業應用中都具備不可替代的優勢；Dimension IconIR已被廣泛應用於材料科學、聚合物研究、生物技術和半導體等行業，特別適合需要進行化學、電學和機械綜合特性分析的研究領域。

產品型錄

技術簡介

專利PeakForce Tapping®技術，提供前所未有的高解析度成像

Dimension IconIR使用了Bruker的PeakForce Tapping^®技術，使AFM能夠無損分析樣品表面，並提供高解析度的力學性質成像。PeakForce Tapping^®能夠以pN(piconewton)的接觸力掃描，即使是最柔軟、最脆弱的材料也不會被探針損傷。與傳統AFM相比，顯著降低測量時的探針橫向力以及樣品損害，同時能讓探針以更高頻率掃描，獲得比傳統AFM接觸模式和輕敲模式更高解析度的成像，以及更清晰細緻的表面結構。

共振增強(Resonance Enhanced)AFM-IR技術，紅外光譜技術與原子力顯微鏡的完美結合

傳統紅外光譜儀受到繞射極限的限制，無法達到奈米尺度的解析度。而Dimension IconIR憑藉其獨特的共振增強AFM-IR技術，通過利用AFM探針來檢測樣品在紅外光照射下產生的熱膨脹，從而實現化學成像。Dimension IconIR完美結合AFM的高空間解析度與紅外光譜的化學鑑定能力，成功將紅外成像的解析度提升到5 nm甚至更小，突破了傳統光學的物理極限，讓您能夠深入分析材料化學結構，並精確定位分子層面的化學異質性。共振增強AFM-IR技術在聚合物、半導體和薄膜等硬質、機械穩定的材料研究中扮演關鍵作用。

產品特點

Tapping AFM-IR輕敲探測模式，揭示軟性材料的化學真相

Tapping AFM-IR透過輕敲(Tapping)成像模式，專門針對軟性或機械異質性材料，能夠有效減少對樣品的損傷，同時實現奈米級高解析度化學成像。Tapping AFM-IR非常適合用於研究聚合物混合物及其他軟質材料，如橡膠、低密度聚乙烯和細胞等，其在柔軟材料中的IR解析度可小於5 nm。

精確檢測樣品表層化學結構，不必擔心內部干擾

Dimension IconIR的Surface Sensitive模式專門用於檢測樣品的表層化學結構，其檢測深度從原本的500 nm顯著降低到30 nm以下。Surface Sensitive模式允許您選擇性檢測樣品表層分子，而不必擔心來自內層訊號的干擾。不同於傳統AFM檢測樣品表層必須橫切樣品，Dimension IconIR提升了檢測效率，成為薄膜、微塑膠等材料分析，以及生命科學等研究領域的理想選擇。