研究型FTIR紅外光譜儀
Bruker INVENIO
FTIR Spectrometer
INVENIO集一系列令人驚豔的創新成果於一體,更榮獲全球頂級iF產品設計獎的肯定。採用獨特的Rocksolid™干涉儀和FM技術,可同時進行中遠紅外光譜分析;新的MultiTect™技術允許控制多達五個內部檢測器,覆蓋從遠紅外到紫外可見光譜的範圍;DigiTect™檢測器插槽則可為多種檢測器提供更豐富的靈活性;智能INVENIO光束路徑進一步提高了光通量和光譜靈敏度等。
從常規的品質控制到高階研發進行革新,無論是專注於生產率、精確度或是廣泛的法令規範,INVENIO幾乎適用於所有應用領域及產業,是工業或純科學領域大多數分析問題的通用解決方案。
技術簡介

卓越創新技術
- 全新設計的光束路徑帶來優異的信雜比
- 第二個樣品室可額外支援一種實驗設置(TransitTM)
- 創新的 MultiTect™ 支援多達5個室溫檢測器,內部可配備多達7個自動檢測器
- 獨特的Bruker FM檢測技術可以一次性收集遠紅外及中紅外光譜

獨一無二的檢測儀技術 - MultiTectTM
INVENIO採用獨一無二的檢測儀技術,可通過軟體同時自動選擇多達 5個室溫檢測器或熱穩定檢測器,例如 DTGS、InGaAs、矽二極體或 GaP 等。此外,額外的DigiTect™ 檢測插槽亦可兼容其它特殊檢測器,例如LN2 冷卻檢測器,加上專用的Transit™ 檢測器,使之內部可配備多達7個自動檢測器。INVENIO無需更換任何硬體,即可覆蓋80 cm-1 – 6000 cm-1 或 4000 cm-1 – 28000 cm-1 ,從遠紅外、近紅外至紫外/可見光的光譜範圍。

充分的採樣靈活性
彈性靈活,可輕鬆擴充
- 傅立葉轉換紅外光譜成像系統/顯微鏡 (HYPERION)
- 高通量測量 (HTS-XT)
- 蛋白質水溶液分析(CONFOCHECK)
- 熱重分析(TGA)
擴充及串聯選擇

HYPERION II 成像系統/顯微鏡
FPA 焦平面陣列成像技術,並可結合FT-IR 紅外顯微與量子串連雷射 (QCL)成像技術的強大分析工具。

TG FT-IR熱分析與紅外光譜聯用
相容於多款主流的熱分析儀廠牌、機型。可直接串接FTIR內建樣品室,亦可藉由外接氣體樣品槽輕鬆地在標準FTIR分析模式或與熱分析儀聯用的逸出氣體分析模式間切換。

RMA II FT-拉曼模組
高擴充彈性的雙通道FT-拉曼模組,得以在 FT-拉曼和 FT-IR 的測量間自動切換,具備光纖探針接口,並可安裝第二套雷射光源及偵測器。

PL II 光致發光模組
光致發光 (Photoluminescence, PL) 是材料、半導體科學和光電子學的一種重要分析方法,在紅外光譜波段,傅立葉轉換技術更大大提升了分析方法的靈敏度。

CONFOCHECK 蛋白質分析系統
適用於溶液態樣品中蛋白質及其他相關生物成分的定量分析、蛋白質二級結構測定及構型改變(如沉澱、結晶)過程的監測。

PMA50 偏振調製測量模組
用於偏振調製-紅外反射吸收光譜(PM-IRRAS)、分子振動圓二色光譜(VCD)之測量,適用於鏡相異構物(enantiomers)、金屬機板上的薄膜或單層材料等。

HTS-XT 高通量微盤分析模組
適用標準化的 96、384 或 1536 孔微盤格式,只需少量研磨後的乾燥固體樣品,或1~20μL液體樣品放置在微盤的單個取樣位置並乾燥,即可進行全自動高通量光譜分析。