原子力顯微鏡

Bruker MultiMode 8-HR
Atomic Force Microscope

Bruker MultiMode系列是Bruker最經典的原子力顯微鏡系列，以卓越的解析度與性能享譽全球，至今已累積銷售數千台。Multimode 8-HR原子力顯微鏡是此系列最新的機種，結合Bruker獨家的PeakForce Tapping^®、 PeakForce QNM^®、FASTForce Volume^TM與獨特的探針技術，在成像速度、解析度和奈米機械性能測量方面有顯著的提升，帶來更簡便的操作、更卓越的性能與分析速度。目前Multimode 8-HR原子力顯微鏡已廣泛應用於材料科學、聚合物研究、生物研究和電化學領域。

產品型錄

技術簡介

新世代高解析度成像技術：PeakForce Tapping®

MultiMode 8-HR採用了Bruker的PeakForce Tapping^®專利技術，與傳統的AFM模式相比，能夠更精確地控制探針與樣品表面之間的相互作用力，允許您以pN(piconewton)的接觸力對樣品進行成像，在不損壞樣品的前提下提供高速高解析度成像，因此它在生物樣品、柔軟材料和其他易損樣品的研究中具有顯著優勢。由於能夠控制力的大小，PeakForce Tapping^®能夠以更小的接觸力來進行高解析度成像，能夠獲得比傳統接觸模式和輕敲模式更清晰細緻的表面形貌。同時大幅提高掃描速度，能夠更快速地完成樣品分析。

PeakForce QNM®技術在液體環境下掃描方解石晶格原子結構的細節和微小缺陷

精確量化記錄各種機械特性：PeakForce QNM®

MultiMode 8-HR結合PeakForce QNM^®(Quantitative Nanomechanical Mapping)技術，能夠對樣品的奈米機械性質進行定量測量。PeakForce QNM^®透過每次PeakForce Tapping^®接觸樣品的過程中，從探針和樣品之間的應力曲線中提取出奈米機械性質資訊，記錄彈性模量、黏滯力、能量耗散等機械性質，讓您在奈米尺度下繪製從極軟材料到硬金屬各種樣品的機械性質表面拓撲圖。

圖左：PeakForce QNM^®技術在液體環境下掃描方解石晶格原子結構的細節和微小缺陷

PeakForce TUNA™技術可以同時測量奈米碳管的高度(左)和電流(右)特性，此影像無法被傳統AFM接觸模式呈現

突破性高靈敏度奈米電學成像技術：PeakForce TUNA™

PeakForce TUNA^TM是一種整合PeakForce Tapping^®技術的高靈敏度奈米電學成像模式，讓您在脆弱樣品如：有機光伏材料、奈米導電管上繪製高解析度電流圖像，同時避免傳統AFM接觸模式的探針橫向力對樣品造成損傷。PeakForce TUNA^TM可測量廣泛的電流範圍(從fA到µA)，並可同步取得樣品表面形貌、電流分布與其他機械性質分布圖，適用於探索各種新材料的奈米電學性質。

圖右：PeakForce TUNA^TM技術可以同時測量奈米碳管的高度(左)和電流(右)特性，傳統AFM接觸模式無法呈現此影像

使用PeakForce KPFM™技術可以測量太陽能電池在不同光照條件下的電位分佈，提供更高穩定性和高解析度成像

精準測量表面電位：PeakForce KPFM™

PeakForce KPFM^TM結合PeakForce Tapping^®模式，在提升空間與電位解析度的同時，也展現出更為精確的電位測量效果，成功解決了傳統KPFM(Kelvin Probe Force Microscopy)會受探針與樣品作用而發生共振偏移現象導致再現性不足的問題，使得測量結果在具備高解析度的同時更加穩定、可靠。因此，MultiMode 8-HR特別適合材料科學和半導體研究等需要精確表面電位圖像的領域。

圖左：使用PeakForce KPFM^TM技術可以測量太陽能電池在不同光照條件下的電位分佈，提供更高穩定性和高解析度的成像